ED400渦流測(cè)厚儀（也稱涂層測(cè)厚儀、薄膜測(cè)厚儀）適用于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度，主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁材料，鋁工件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。采用磁性測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等），本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

  適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢測(cè)，可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。ED400渦流測(cè)厚儀是ED300渦流測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能大幅度提高。 

儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

渦流測(cè)量原理：

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔帽砻髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)  1臺(tái)（含探頭）

基體  1個(gè)（6063鋁合金）

校正箔片 1個(gè)

使用說明書1本

合格證1張

便攜式儀器箱1個(gè)

與ED300測(cè)厚儀相比，ED400測(cè)厚儀具有以下特點(diǎn)：

量程寬   ED400量程達(dá)到0～500μm。
精度高   ED400型的測(cè)量精度達(dá)到2%。
分辨率高   ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證儀器精度。
基體導(dǎo)電率影響小  基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2μm。
可靠性提高    采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性顯著提高。
穩(wěn)定性提高   采用*溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
探頭線壽命長(zhǎng)   采用德國(guó)進(jìn)口探頭線，可以延長(zhǎng)探頭線壽命。
探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
探頭可互換   外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭，儀器無(wú)需返廠維修。

ED400渦流測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：