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ED400渦流測厚儀

供應(yīng)數(shù)量:1316

發(fā)布日期:2025/4/10

有效日期:2025/10/11

原 產(chǎn) 地:沈陽天星

已獲點(diǎn)擊:1316

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 ED400渦流測厚儀

ED400渦流測厚儀ED300渦流測厚儀的改進(jìn)型,儀器性能大幅度提高。
      
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。采用磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如:鋼、鐵、鎳)上非磁性覆層的厚度(如:鍍鋅、鉻、油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層等),本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造、金屬加工、化工、商檢等檢測領(lǐng)域。

      沈陽天星ED400
適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進(jìn)行快速、無損的膜厚檢查,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      
儀器符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。
 儀器特點(diǎn)
      
ED400渦流測厚儀ED300型相比,具有如下特點(diǎn):
*量程寬   ED400量程達(dá)到0500μm。
*精度高   ED400型的測量精度達(dá)到2%
*分辨率高   ED400型的分辨率達(dá)到0.1μm。
*校正簡便   只校正“0”“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
*探頭線壽命長   采用德國進(jìn)口的,在德國測厚儀上使用的探頭線,探頭線壽命可大大延長。
*探頭芯壽命長   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長。
*探頭可互換   外接式探頭,探頭損壞后,使用者可自行更換備用探頭。儀器無需返廠維修。
*基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測量誤差不大于12μm。
*可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
*穩(wěn)定性提高 采用*溫度補(bǔ)償技術(shù),測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
ED400渦流測厚儀技術(shù)參數(shù)
測量范圍:
     0500μm
測量精度:     050μm±1μm;
                    50
500μm±2%
率:     050μm0.1μm、
                    50
500μm1μm;
                    0
500μm1μm(可選)
使用溫度:     545
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
      量:     260g
ED400渦流測厚儀配置與選配
ED400標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
探頭 1
基體 1(6063合金
校正箔片 150μm,附檢測報(bào)告
使用說明書 1
合格證 1
保修單 1
手提式儀器箱1個(gè)
可選附件
備用探頭
基體
校正箔片50μm,附檢測報(bào)告
 
影響的一些可能因素:
基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對進(jìn)行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度
每一種都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。